Время работы: 9.00 до 18.00

Свяжитесь с нами: info@ctms.by

Телефоны

Телефоны:

+375 (29) 333-04-16

Факс:

+375 (17) 388-10-35
Заказать обратный звонок

г. Минск, ул. Мележа, д.1а, офис 115

Science Center устанавливает широкоуниверсальную систему КТ

25.05.2018

Предоставляя услуги НДТ и КТ для различных отраслей, Nexus Metrology занимается широким спектром приложений. Для обработки различных редких и сложных запросов компания полагается на Nikon Metrology XT H 225 ST, универсальную, неразрушающую рентгеновскую систему, обеспечивающее быстрое и проницательное КТ-сканирование. Адаптивность системы делает ее ценным инструментом для выявления дефектов, трещин и пор во многих материалах от костей до литых деталей.   

Nexus Metrology - это подразделение Trikon Technologies, Inc., которое в течение 25 лет предоставляет решения по неразрушающему контролю (NDT) во многих отраслях промышленности. Канадская компания, базирующаяся в Квебеке, специализируется на предоставлении микрокомпьютерной томографии (MCT) и сервисах моделирования характеристик  для областей применения в промышленности, науки и научных кругов. Центр исследований изображений в Nexus Metrology использует новейшую технологию обработки изображений и материалов для получения точной структурной и размерной информации. 

Компания сертифицирована по стандарту ISO-9001: 2015 и CGP (контролируемые товары), а ее лаборатория руководствуется главными принципами VDI / VDE 2630, , которые обеспечивают сопоставимость и прослеживаемость измерений с использованием компьютерной томографии в промышленных условиях.

Инженерия и NDT Geoscience, материаловедение и наука о жизни являются преобладающими сферами работы. Nexus Metrology стремится помогать клиентам решать основные проблемы, связанные с проведением высококачественных исследований образцов, деталей и материалов.

Работая с аэрокосмической, автомобильной, электронной, судебной, текстильной, геонаучной и медицинской отраслями, поступающие проекты редко бывают одинаковыми. Начиная с компонентов печатных плат , отливок и лопаток турбин до скал, ядер и почв или даже в исследовательских проектов с костями, стентами и клапанами сердца каждый образец уникален. Это означает, что Nexus Metrology регулярно занимается разнообразными материалами и методами производства.

Металлические сплавы, компоненты, изготовленные присадками, отливки или поковки представляют собой лишь часть проектов в Центре обслуживания изображений.

Широкий спектр приложений

Nexus Metrology часто сотрудничает с государственными исследовательскими институтами и университетскими научно-исследовательскими лабораториями. Компания была заключена контрактом на образцы изображений, такие как археологические артефакты, композиты, батареи и металлические присадки, изготовленные из образцов или порошков за пределами более крупных промышленных, медицинских и геологических областей.

XT H 225 ST обеспечивает универсальное сканирование

Легкая композитная, чистая эпоксидная смола, пластмасса и резина требуют очень низкого энергетического сканирования. По мере развития новых технологий и материалов появляется повышенный спрос не только на неразрушающий контроль, но и на высококачественные исследования сложных образцов, деталей и материалов. Чтобы удовлетворить эту потребность, универсальность системы КТ становится ключевым фактором. Nexus Metrology использует Nikon XT H 225 ST, который идеально подходит для широкого спектра материалов, размеров образцов и приложений.

«Является ли это дорогостоящим прототипом новой аэрокосмической части или уникальным археологическим нахождением, мы можем адаптировать нашу конфигурацию КТ на основе типа образца с использованием различных аксессуаров», - замечает Евгения.

Установка в Nexus Metrology включает три взаимозаменяемых источника (цель передачи 180 кВ, цель отражения 225 кВ и вращающаяся мишень 225 кВ) и четыре целевых материала: вольфрам (W), молибден (Mo), медь (Cu) и серебро (Ag). Благодаря возможности выбирать другой материал-мишень, существует лучшая линейка характерных эмиссий, производимых системой, что позволяет эффективно сканировать материалы с различной плотностью с хорошим контрастом.

«Сочетание различных источников микрофокуса с усовершенствованными плоскими панельными детекторами делает систему XT H 225 ST гибким инструментом для лабораторий качества, производственных объектов и исследовательских отделов», - резюмирует Евенгия.

Источник

Задать вопрос или связаться с нами

Если у Вас остались вопросы или Вы хотите связаться с нами, напишите нам и наш менеджер свяжется с Вами в ближайшее время для уточнения информации.

Связаться